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製造業者識別番号: | 8V182512IDGGREP |
メーカー: | Texas Instruments |
説明の一部: | IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |
データシート: | 8V182512IDGGREP データシート |
鉛フリーステータス/ RoHSステータス: | 鉛フリー/ RoHS準拠 |
在庫状況: | 在庫あり |
発送元: | Hong Kong |
発送方法: | DHL/Fedex/TNT/UPS/EMS |
タイプ | 説明 |
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シリーズ | - |
パッケージ | Tape & Reel (TR)Cut Tape (CT)Digi-Reel® |
部品ステータス | Active |
論理タイプ | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
供給電圧 | 2.7V ~ 3.6V |
ビット数 | 18 |
動作温度 | -40°C ~ 85°C |
取付タイプ | Surface Mount |
パッケージ/ケース | 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
サプライヤーデバイスパッケージ | 64-TSSOP |